Sunday, December 9, 2012

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sn74lvc1g374.pdf
 
Features
 
Available in the Texas Instruments  · Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per 
NanoStar and NanoFree" Packages " JESD 78, Class II 
· Supports 5-V VCC Operation  ESD Protection Exceeds JESD 22 
· Inputs Accept Voltages to 5.5 V  – 2000-V Human-Body Model (A114-A) 
· Max tpd of 4 ns at 3.3 V  – 200-V Machine Model (A115-A) 
· Low Power Consumption, 10-mA Max ICC  – 1000-V Charged-Device Model (C101) 
· ±24-mA Output Drive at 3.3 V 
· Ioff Supports Partial-Power-Down Mode 
Operation 
 
DESCRIPTION/ORDERING INFORMATION
 
This single D-type latch is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.
The SN74LVC1G374 features a 3-state output designed specifically for driving highly capacitive or relatively
low-impedance loads. This device is particularly suitable for implementing buffer registers, input/output (I/O)
ports, bidirectional bus drivers, and working registers.
NanoStar™ and NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the
die as the package.
On the positive transition of the clock (CLK) input, the Q output is set to the logic level set up at the data (D)
input.
 
A buffered output-enable (OE) input can be used to place the output in either a normal logic state (high or low
logic levels) or the high-impedance state. In the high-impedance state, the output neither loads nor drives the
bus lines significantly. The high-impedance state and increased drive provide the capability to drive bus lines
without interface or pullup components.
OE does not affect the internal operations of the flip-flop. Old data can be retained or new data can be entered
while the outputs are in the high-impedance state.
To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup
resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs,
preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
 

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